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Chimie de la Matière Condensée de Paris

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Moyens en équipements



Equipements propres à l’unité

RMN

  • - Spectromètre solide Bruker AV 300
    • - Sondes statique 5mm (H ou X), 7mm H-X, 4mm H-X, 4mm H-X MQ, 4mm H-X HR-MAS, 4mm
      H-X-Y, 2.5mm (H ou F)-X
    • - guillaume.laurent[at]upmc.fr, planning www.labos.upmc.fr/lcmcp/resa
  • - Spectromètre solide Bruker AV 300
    • - Sondes CP-MAS 7mm 1H-X, CP-MAS 4mm 1H-X, CP statique 1H-X, HP statique 10mm 129Xe,
      liquide BBO 5mm 1H-X-2H
    • - guillaume.laurent[at]upmc.fr, planning www.labos.upmc.fr/lcmcp/resa
  • - Spectromètre liquide Bruker AVIII 300 (7.05 T)
    • - Sonde BBFO (X-1H) 5mm avec gradient z (50G/cm)
    • - Sondes "fort gradient" (1200 G/cm) 5mm
      • ▪ Diff30L (13C-1H-2H)
      • ▪ Diff30 avec les inserts X/2H (X = 19F, 31P, 23Na, 133Cs)
    • - francois.ribot[at]upmc.fr

Microscopies

  • - Cryo-microscope électronique en transmission Tecnai spirit G2, équipé de :
    • - Caméra Gatan Orius,
    • - EDX
    • - Module Low-dose
    • - Module de tomographie
    • - Module complet de cryomicroscopie
    • - Porte-objets : simple tilt, double tilt, trois positions, cryo
    • - patrick.legriel[at]upmc.fr, gervaise.mosser[at]upmc.fr,
        planning www.labos.upmc.fr/lcmcp/resa
  • - Microscopie électronique à balayage Hitachi S-3400N équipé d'un EDX (Oxford Instruments - X- max)
    • - Vide partiel possible
    • - Détecteurs d'électrons secondaires (SE) et rétrodiffusés (BSE) en vide secondaire et
      détecteur d'électrons secondaires en vide partiel (ESED)
    • - Détecteur de rayons X
    • - patrick.legriel[at]upmc.fr, isabelle.genois[at]upmc.fr,
        planning www.labos.upmc.fr/lcmcp/resa
  • - Microscopie à force atomique (marco.faustini[at]upmc.fr)

Techniques de diffusion

  • - Diffusion Dynamique de la lumière (DLS), Potentiel ZETA
      (thibaud.coradin[at]upmc.fr)
  • - Diffusion des rayons X

Analyses thermiques

  • - DSC (-150°C/500°C) TA DSC 2010,
    • - Système de refroidissement LNCA
    • - Module d'analyse thermique simultanée ATG/DSC (1500°C) TA SDT 2960 ATG/ATD (1500°C) Netzsch STA 409
  • - DSC modulée TA Q20 (de -180°C à 725°C)
  • - nora.abdoul-aribi[at]upmc.fr

Adsorption-désorption d’azote (B.E.T)

  • - ASAP 2010 (cecile.roux[at]upmc.fr, andrei.nossov[at]upmc.fr)
  • - Belsorp max

Conductivité électrique, mesures électrochimiques

Spectroscopies

  • - Spectromètre infra-rouge (FT-IR) (nora.abdoul-aribi[at]upmc.fr)
  • - Spectromètre UV-Visible UVIKON SECOMAM (thibaud.coradin[at]upmc.fr)
  • - Spectromètre UV-Visible-nIR CARY 5000 - Agilent Technologies (olivier.durupthy[at]upmc.fr)
  • - Spectropolarimètre CD-UV (carole.aime[at]upmc.fr)
  • - Fluorimètre HORIBA Jobin-Yvon (lionel.nicole[at]upmc.fr)

Ellipsométrie (cedric.boissiere[at]upmc.fr)

Procédés de mise en forme

  • - Dip coater
  • - Spin coater
  • - Aérosol (cedric.boissiere[at]upmc.fr)
  • - Electro-spinneur
  • - Séchage hyper-critique : BAL-TEC 030 Critical Point Dryer
  • - Lyophilisateur (sylvie.masse[at]upmc.fr)
  • - Extrudeuse / Mélangeur

Fours

  • - Fours micro-onde
    • - Anton Paar Multiwave 3000 avec Rotor XF100 Tmax 250, Pmax 60 bar
    • - Milestone MicroSYNTH
    • - olivier.durupthy[at]upmc.fr
  • - Fours pyrolyse (corinne.chaneac[at]upmc.fr)

Boites à gants (MBrawn) (laurence.rozes[at]upmc.fr, francois.ribot[at]upmc.fr)

  • - Sèche (H2O < 0,5 ppm)
  • - Inerte (H2O < 0,5 ppm et O2 < 0,5 ppm)

Analyses Mécaniques

  • - Machine d’essais en traction Instron
    • - 2 cellules de force
    • - Enceinte climatique
  • - Rhéomètre avec module DMA (Analyse mécanique dynamique) Anton Paar

 
 
 

Plateformes mutualisées de l’IMPC (FR 2482)
page des plateformes du site de l'IMPC

Diffraction et diffusion des Rayons X (mohamed.selmane[at]upmc.fr)

  • - Diffractomètres sur poudre en réflexion
    • - Tube CuKα (1.54 Å)
  • - Appareil de SAXS

RMN

  • - Spectromètre RMN solide 700 SB (US++) BRUKER Avance III
    • - Sondes:Trigamma3.2mmLowgamma;MAS:1H-X-Y;X=23Na-29Si,Y=15N-43Ca;Tri
      gamma 3.2 mm High gamma ; MAS : 1H-X-Y ; X = 31P-13C, Y = 23Na-15N ; Ultrafast MAS 1.3
      mm ; MAS : 1H-X ; 31P-77Se Statique – Trigamma ; ; Ultrafast MAS 1.3 mm ; MAS : 67 kHz; 1H-X
    • - Accessoires : BCUX extrême
  • - Spectromètre RMN solide 500 WB (US) BRUKER Avance III
    • - Amplificateurs : H1000, X1000, X500
    • - Accessoire : BCU-extrême
    • - Sondes:7mm;MAS:1H-X;X=15N31PDVT;4mm;MAS:1H-X;X=15N31P;DVT;4mm
      triple ; MAS 1H-X-Y ; X 31P ; Y 29Si 65Cu ; DVT2.5 mm ; MAS : 1H-X ; X = 13C 31P DVT
  • - Spectromètre RMN liquide 500 SB BRUKER AVIII
    • - Sondes : BBI (1H-X) 5mm avec gradient z (50G/cm) ; BBO (X-1H) 10mm avec gradient z (30G/cm)

Microscopies électroniques

  • - MET JEOL 2100 PLUS
    • - Tension d'accélération : 200 KV - Résolution : 1.9 Angstrom
    • - Analyseur EDS (SDD 80 mm2-Oxford, logiciel AZtec)
    • - Spectromètre de perte d'énergie (GIF) pour l'imagerie filtrée (EFTEM)
    • - Spectromètre (EELS)
    • - Système de balayage du faisceau (STEM)
    • - Détecteur à fort angle pour le champ sombre annulaire (HAADF)
    • - Caméra CCD Gatan (Orius) - Logiciel Gatan
  • - MET JEM 2011 UHR/EDX
    • - Tension d'accélération : 200 KV Résolution : 1.9 angstrom
    • - Analyseur EDS (PGT)
    • - Système de balayage du faisceau (STEM)
    • - Caméra CCD Gatan (Orius) - Logiciel Gatan (Digital micrograph)
  • - MET JEM 1011
    • - Tension d'accélération : 100 kV - Résolution : 3 angstrom
    • - Caméra Gatan (Orius) - Logiciel DigitalMicrograph
  • - SEM-FEG HITACHI SU-70
    • - Détecteurs d'électrons secondaires (SE) (résolution 1 nm à 15 kV ; 2,5 nm à 1kV) et
      rétrodiffusés (BSE) en vide secondaire
    • - Détecteur en sélection de rayons X (EDX) : Oxford X-Max 50 mm2, logiciel INCA

Spectroscopie de Photoélectrons X

  • - Spectromètre Omicron Nanotechnology
    • - Analyseur hémisphérique
    • - Détection à 128 microcanaux
    • - Source de RX alfa (1486.6 eV) monochromatée